PS-200紫外可见光谱仪

用途:PS-200紫外可见光谱仪可以测量300~850nm的入射、反射和透射光谱,通过电脑软件可以直接读出入射光、反射光、透射光的光谱图。     

  • 产地: 美国
  • 型号: PS-200
  • 名称: PS-200紫外可见光谱仪

用途:

PS-200紫外可见光谱仪可以测量300~850nm的入射、反射和透射光谱,通过电脑软件可以直接读出入射光、反射光、透射光的光谱图。


 PS-200紫外可见光谱仪    PS-200紫外可见光谱仪    PS-200紫外可见光谱仪


特点:        

便携坚固的铝制外壳设计        

APOGEE 的余弦校正器,确保低角度光的精确测量        

在标定的测量范围300—1000nm((NIST 可追溯性)内分辨率小于1nm


 PS-200紫外可见光谱仪


标准软件特征:    

    发光测量:测量以瓦特每平方米每纳米或摩尔每平方米每秒每纳米为单位;同时显示完整的PPF值。
    照明度测量:测量以流明每平方米每纳米或尺烛光每平方英尺为单位;同时显示完整的LUX值。
    CIE(国际照明委员会)应用:系统显示CIE制定的1931年X、Y色度图。照明模式下显示占有优势的波长和纯度,发光模式下显示颜色温度。
    分光比色计:测量反射光线的颜色。同时系统会显示非自照明的颜色空间图表作为参照,图表对色彩浓度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩评估和说明,并提供新的Delta-E色彩对比表。
    化学成分测量:测量化学成分的浓度。同时系统会显示浓度标度,或者将之前已经测量好的化学成分浓度与未知的样品做对比。
    UV测量:测量UV能量分布状态。将UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特为单位绘制线形图;提供红斑和黑素原发生作用的最大时间。

PS-200紫外可见光谱仪 

技术规格:

波长灵敏度

190~850nm

辐射校正范围

300~850nm

波长分辨率

0.85nm

检测器类型

CCD 2048像素

光栅类型

像差校正全息光栅,500 g/mm

数字转化

16 bit

信号噪声比

1000:1

杂散光

0.02%在435nm ; 0.2%在200nm

测量重复性

<1%

波长不确定性

±10%

检测器曝光时间

1ms-65s

方向响应

±5%(80°天顶角)

输出接口

USB 2.0

电源要求

5V DC/100mA,采用USB线缆

工作温度

0-60℃

光缆长度

2米

尺寸

69*100*150mm

重量

900g

 

产地:美国