DLI-400日光积分测量仪

Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射(PAR),是一种低成本的选择,只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性;除了测量PAR,DLI-400测量仪还可以计算每日光积分(DLI)和光周期。

  • 产地: 美国
  • 型号: DLI-400
  • 名称: 日光积分测量仪

用途:Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射(PAR),是一种低成本的选择,只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性;除了测量PAR,DLI-400测量仪还可以计算每日光积分(DLI)和光周期。

 

DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式:存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中,它显示DLI测量值、光照时间和哪一天收集的数据(最多99天以前)。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。

光测量仪

技术参数:

测量重复性

小于 0.5 %

测量范围

0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹

长期漂移

每年少于 2%

视野

180°

光谱测量范围

(± 5 nm)370 至 650 nm(仅限阳光)

余弦响应

± 5 % 在 75˚ 天顶角

响应时间

2.5 秒

测量频率

3分钟

数据记录容量

99 天(DLI 和光周期),10 天(30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值)

非线性

小于 1 %(最高 4000 µmol mˉ² sˉ¹)

存储数据分辨率 (PPFD)

0.1 µmol mˉ² sˉ¹(≥1000时屏幕不显示小数)

存储数据分辨率 (DLI)

0.1 mol mˉ² 天ˉ¹

存储数据分辨率(光周期)

0.1小时

连接性

Type--C 数据传输的 CSV 文件

ADC 分辨率

24 位

操作环境

-10 至 60 ℃;0 至 100 % 相对湿度

电池寿命

6个月

重量

67g


15821625398
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