ECA-NY01农艺形态测量仪

用途:本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。 技术参数:1、有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品2、无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;3、可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;4、大容量SD卡2G

  • 产地: 中国
  • 型号: ECA-NY01
  • 名称: ECA-NY01农艺形态测量仪

农艺形态测量仪

用途:

本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。

 

技术参数:

1、有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品

2、无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;

3、可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;

4、大容量SD卡2G储存,最多可储存100万组测量数据,生成TXT文档,并可转化为Excl表格;

5、测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号;

6、可以通过软件生成各种农艺测量报告表格;

7、测量范围:0-3000mm;精度:1mm;误差:1mm ;

 

产地:中国


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