SC-E大米外观品质检测仪

用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。 系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。 技术参数:硬件规格光学分辨率4800×9600 dpi根系透扫幅面积30 cm×20 cm最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm软件功能分析测量1)  可自动一次性测量分析30

  • 产地: 中国
  • 型号: SC-E
  • 名称: SC-E大米外观品质检测仪

大米外观品质检测仪

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用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

 

系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

 

技术参数:

硬件规格

光学分辨率

4800×9600 dpi

根系透扫幅面积

30 cm×20 cm

最小像素尺寸

0.0053mm ×0.0026 mm

软件功能

分析测量

1)  可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

2)  自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。

3)  可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应,检测各项指标的重量比和粒数比。

4)  各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。

5)  具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

6)  具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm(最厚15 mm),自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达100%。

 

产地:中国


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