DLI-500光合有效辐射、日光积分和光周期测量仪

Apogee的新型 DLI-500测量仪设计用于测量 400-700 nm的光合有效辐射 (PAR),并且在各种光源下数据精度都很好。除了测量 PAR,DLI-500仪表还计算日光积分 (DLI) 和光周期。

  • 产地: 美国
  • 型号: DLI-500
  • 名称: 光合有效辐射、日光积分和光周期测量仪

用途:Apogee的新型 DLI-500测量仪设计用于测量 400-700 nm的光合有效辐射 (PAR),并且在各种光源下数据精度都很好。如果您正在寻找在阳光和某些宽带光源下准确的仪器,请参阅我们的DLI-400型号。除了测量 PAR,DLI-500仪表还计算日光积分 (DLI) 和光周期,PPFD、DLI 和光周期数据可在屏幕上查看或通过 USB-C 电缆下载进行分析,可直接放在水平面上也可安装到三脚架、夹具或木桩上。

日光积分测量仪

DLI-500测量仪有两种不同的屏幕模式:存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中,它显示DLI测量值、光照时间和采集收据的日期(最多99天以前)。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。


特点:

•经济实用;                    

•坚固耐用,可在潮湿环境下使用,防护等级IP65;

•数据实时显示。


技术参数:

光谱范围(±5 nm)

389nm~692nm

量程

0~4000 μmol/m2/s

视角

180°

校准误差

±5%

重复性

<0.5%

非稳定性(长期漂移)

<2%/年

测量频率

3min

非线性

<1%(≤4000μmol/m2/s)

响应时间

2.5s

方向响应

±5%(75°天顶角)

温度响应

-0.11±0.04%/℃

数据记录容量

99天(DLI 和光周期),10 天(30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值)

存储数据分辨率(PPFD)

0.1μmol/m2/s(≥1000时屏幕不显示小数)

存储数据分辨率 (DLI)

0.1 mol mˉ² /天

存储数据分辨率 (光周期)

0.1小时

连接性

USB--C 数据传输的 CSV 文件

ADC 分辨率

24位

工作环境

-40 至70 ℃;0 至 100 % 相对湿度

防护等级

IP65

电池寿命

6个月

尺寸

1.91宽x 2.31高x 0.93深(英寸)

电池类型

两节AAA

重量

67g


15821625398
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