DLI-500日光积分测量仪(全光谱)

DLI-500 日光积分测量仪设计用于测量 400-700 nm 的光合有效辐射 (PAR),并且在所有光源下都是准确的;除了测量 PAR,DLI-500 仪还计算日光积分 (DLI) 和光周期。

  • 产地: 美国
  • 型号: DLI-500
  • 名称: 日光积分测量仪

用途:Apogee 的新型 DLI-500 日光积分测量仪设计用于测量 400-700 nm 的光合有效辐射 (PAR),并且在所有光源下都是准确的。如果您正在寻找在阳光和某些宽带光源下准确的低成本选项,请参阅我们的DLI-400 型号。除了测量 PAR,DLI-500 仪还计算日光积分 (DLI) 和光周期。

日光积分测量仪

DLI-500 仪有两种不同的屏幕模式:存储数据和实时取景数据。

在存储数据屏幕中,它会显示 DLI 测量值、光周期以及收集数据的日期(最多 99 天前)。实时取景数据屏幕显示过去 2.5 秒的 PPFD 运行平均值。

技术参数:

测量重复性

小于 0.5 %

测量范围

0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹

长期漂移

每年少于 2%

视野

180°

光谱测量范围

(± 5 nm) 389 至 692

余弦响应

± 5 % 在 75˚ 天顶角

响应时间

2.5 秒

测量频率

3分钟

数据记录容量

99 天(DLI 和光周期),10 天(30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值)

非线性

小于 1 %(最高 4000 µmol mˉ² sˉ¹)

存储数据分辨率 (PPFD)

0.1 µmol mˉ² sˉ¹(≥1000时屏幕不显示小数)

存储数据分辨率 (DLI)

0.1 mol mˉ² 天ˉ¹

存储数据分辨率(光周期)

0.1小时

连接性

Type--C 数据传输的 CSV 文件

ADC 分辨率

24 位

操作环境

-40 至 70 ℃;0 至 100 % 相对湿度

电池寿命

6个月

重量

67g


15821625398
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