用途：ChemRevealTM台式LIBS激光诱导击穿光谱元素分析仪直接对所有固体材料中的未知元素进行快速、精准化学分析，实现对样品表面和断面分析并实现空间制图。该仪器采用先进的激光诱导击穿光谱分析方法，结合ChemRevealTM软件可快速分析样品组分中元素含量多少，同时软件可支持建立用户自定义和预加载数据库/定标曲线。ChemRevealTM台式LIBS激光诱导击穿光谱元素分析仪系统包括高分辨率成像系统、电脑控制样品操作系统、激光器、光谱仪和探测器的集成系统，能够测量有机物成分如C、H、O、N等轻元素，同时还可以测量Li、B、Be、Na、Mg等重金属元素。需要检测Al、Mg、C等轻元素时，或是制备样品时间不够的情况下，LIBS是替代XRF的最佳选择。
特点：
测量元素多，原子序数z<12的轻元素和重元素、能进行分析；
快速分析，数秒内即可出分析报告；
不需要制备检测样品或者少量样品即可；
无需消解试剂，更环保，更安全；
比其他元素分析设备需要样品量少；
可在微米范围内制作深度剖析和空间制图，测定不同样品表面的元素成分分布；
微观分析到宏观分析，具有灵活的定点精确分析；
定性分析样品成分，定量分析元素含量；
对大多数元素的检出限制为10 ppm到100 ppm；
可配置多种激光和光谱探测器选项；
实用性强，免维护，没有耗材；
无需光学校准操作；
技术规格：
元素测量范围 | 原子序数Z>=1 (包括C, H, O等有机元素，以及N, Li, Be, B等轻元素，以及几乎所有金属、非金属元素) |
浓度范围 | 10ppm至%级别（取决于元素及仪器配置） |
分析类型 | 定性及定量分析 |
分析时间 | 一般20s左右 |
样品形态 | 固体或粉末（粉末需要压片后测量）。直接测量，无需特别的样品制备 |
样品放置 | XYZ三轴全自动可自由定位样品台，行程可达125px，步进电机驱动，定位精度0.8 μm |
样品成像 | 双摄像头配置。5x广角镜头用于大视野观察；400x高倍放大镜头用于微观精确定位；带LED照明；摄像头与激光器的光学组件同轴，确保精确定位及采样 |
最低样品质量 | ~100pg至10 μg（取决于样品） |
最大样品尺寸 | 约22.8cm x12.7cm x12.7cm |
分析光斑尺寸 | 光斑大小可调。最小：5μm，最大：400μm |
分析深度 | ~1 - 100μm，取决于材料材质及激光器能量设置 |
激光能量计量 | 266nm激光器：0~50mJ/脉冲 +/-5%，可调 1064nm激光器：0~400mJ/脉冲 +/-5%，可调 带激光能量反馈 |
光谱仪采样延时时间 | 延时时间500 ns ~ 1 ms可调，调整分辨率100ns |
校准 | 水银灯校准Echelle光谱；标准材料校准宽幅光谱 |
软件 | ChemRevealTM软件： ＋硬件控制（样品台、激光器、聚焦、成像）； ＋数据获取 |
ChemLyticsTM软件； ＋自动元素鉴定； ＋单变量定量和校准； ＋数据库建立和匹配 | |
ChemILyticsTMPlus软件： ＋模型建立和数据可视化； ＋多变量定量分析； ＋多变量定性分析 | |
光谱探测器 | 4通道宽幅光谱仪（波长λ=190-950nm） |
7通道宽幅光谱仪（波长λ=190-950nm） | |
配有iCCD探测器的Echelle光谱仪（波长λ=200-900nm） | |
仪器尺寸 | 仪器总尺寸（高x宽x厚）：43cm x50.8cm x42.7cm； 激光供电及冷却设备尺寸：31cm x11.8cm x40.6cm； 电脑：标准台式机 |
仪器结构 | 一体化设计，确保设备的可靠性及一致性 |
总重量 | 仪器质量：45kg； 激光供电及冷却设备质量：14kg（带冷却液）； 电脑：标准台式机 |
计算机 | Windows7多核处理器 |
所需气体 | 氩气或氦气：分析N, H, O等有机元素时需要少量的氩气或氦气作为保护气，由计算机自动控制电磁阀操作 |
电源 | 120V~240V通用，10A |
标准及认证 | 仪器整体CE认证，满足ISO9001:2008 |
产地：美国